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​x-ray检测设备的高效在芯片检测中的优势
发布时间:2020-10-03 09:00:00

实际上,总会有一小部分人出于自己的实际利益,以劣质和假冒产品充斥市场,从而赚取巨额市场利润。电子元件行业也不例外。由于假冒电子元件对供应链经济构成巨大威胁,当局表示,在过去十年中,假冒事件已增加了200%。

 

在性能和可靠性方面,伪造的电子组件的外观与常规产品相差甚远。特别是对于那些经过翻新的伪造电子部件,在反复焊接和长期使用后,翻新过程中的某些损坏将大大降低性能和可靠性,并对产品性能和稳定性产生很大的负面影响。


随着技术的不断进步,伪造的电子元件的外观变得越来越逼真,肉眼无法分辨。也是在这个时候出现了X-RAY测试设备。与传统的破坏性物理分析和故障分析相比,X-RAY的优势在于及时性,成本和专业性。它们具有明显的优势。


从事相关行业X射线无损检测的业内人士指出:X射线检测设备具有无损,使用方便,检测精度高等一系列优点。通过检测设备,可以很好地检测电子元件的内部状态,甚至可以检测电子设备的角度,电流,电压和图像。 X射线管可以通过。为了基于对比度和亮度获得相应的有效图像信息,可以将其与常规原始产品进行很好的比较,从而可以轻松识别组件的真实性。

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千亿体育官方首页科技X射线检测设备具有无损,易于使用和检查精度高等一系列优点。通过检查设备,可以很好地检查电子元件的内部状态,甚至可以通过X射线管的角度,电流,电压,图像对比度和亮度获得相应的有效图像信息。


现在,随着各种智能终端设备的兴起,人们对电子产品质量和可靠性的要求不断提高,对芯片质量的要求也越来越高。在开发,生产和使用过程中,芯片故障是不可避免的。因此,芯片检查和分析工作变得越来越重要。电子制造商已采用成熟的技术进行芯片测试。通过分析,它可以帮助设计人员发现芯片设计中的缺陷,工艺参数不匹配或设计和操作不当。这需要使用芯片测试设备X-RAY设备。


芯片测试的目的和方法

芯片测试的主要目的是尽早发现影响生产过程中产品质量的因素,并防止批生产超出公差,维修和报废。这是产品过程质量控制的重要方法。具有内部透视功能,用于无损探伤。它通常用于检测芯片封装中的各种缺陷,例如层分层,破裂,空隙和引线键合的完整性。此外,X射线无损检测还可以查看PCB制造过程中可能出现的缺陷,例如对准不良或桥开路,短路或异常连接,并检测封装中焊球的完整性。它不仅可以检测到不可见的焊点,而且可以定性和定量地分析检查结果以尽快发现问题。


X射线技术芯片检查原理

在芯片检查过程中,由国内专业的X射线检查设备制造商推出的X射线检查设备可以提高芯片检查的效率。 X射线检查设备使用X射线发射管产生X射线,X射线穿过芯片样本并在图像接收器上产生投影。它的高清成像可以被系统放大1000倍,可以更清晰地显示芯片的内部结构。


实际上,面对市场上看起来非常逼真但内部结构有缺陷的那些芯片,很明显它们无法用肉眼加以区分。因此,X射线测试设备为电子产品生产过程中的产品芯片测试提供了充分的保证,并发挥着重要的作用。


芯片检查的不同方法

为了有效地检测芯片质量,国内市场上出现了许多测试设备。但是,普通的AOI和超声波测试总是有这样的缺点。


X-RAY芯片无损检测的优势

实践证明,它在芯片测试的及时性和成本上具有明显的优势。 X射线无损检测的优势在于它不仅可以检测产品的内部缺陷,而且可以以图像形式保存产品的分析投影。此测试方法对于将来的分析和比较非常关键。的作用。

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随着国家有关职能部门对电子产品质量检验的要求越来越严格,对芯片检验有效的X射线无损检验设备也得到越来越广泛的使用。这样,可以将其与常规原始产品进行比较,从而可以轻松地检查组件的真实价值,并可以识别假冒产品。


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